数字系统测试和可测性设计pdf_数字系统测试中的可测性设计要点

# 标题：数字系统测试与可测性设计

**一、引言**

数字系统在现代科技中无处不在。为确保其可靠性，测试至关重要。同时，可测性设计是提高测试效率的关键手段。

**二、数字系统测试**

数字系统测试旨在检测故障。它包括功能测试，验证系统是否按预期执行操作；还有故障检测测试，通过输入特定激励，检查输出是否符合预期，以发现制造缺陷或运行时产生的故障。

**三、可测性设计**

可测性设计（dft）是在设计阶段就考虑测试需求。例如，扫描链设计将内部寄存器连接成移位寄存器链，方便测试数据输入输出。边界扫描技术则用于测试芯片间连接等。dft能够降低测试成本，提高故障覆盖率，缩短测试时间，确保数字系统的质量和可靠性，在集成电路等数字系统开发中有广泛应用。

数字系统芯片可测性设计

《数字系统芯片可测性设计》

数字系统芯片的复杂度不断增加，可测性设计变得至关重要。

可测性设计旨在提高芯片测试的效率和准确性。一方面，通过在芯片设计阶段插入测试结构，如扫描链。扫描链将芯片内部的寄存器连接成一个可控制和观测的长链，方便输入测试激励并捕捉输出结果。另一方面，内建自测试（bist）也是常用手段。它让芯片自身具备测试能力，减少对外部测试设备的依赖。

良好的可测性设计能够降低测试成本，缩短测试时间，提高芯片的成品率。在大规模生产中，快速有效地检测出芯片的故障，保证芯片功能的正确性，从而提升整个数字系统的可靠性与稳定性，满足现代电子设备对高性能芯片的需求。

数字测量系统

《数字测量系统：精准测量的得力助手》

数字测量系统在现代社会发挥着至关重要的作用。它利用数字化技术，将各种物理量如长度、重量、温度等转换为数字信号进行处理。

与传统测量方式相比，数字测量系统具有更高的精度。传感器精确感知测量对象的变化并转化为电信号，再经模数转换得到准确的数字读数。例如在工业制造中，对于精密零件的尺寸测量，数字测量系统能精确到微米级别，保证产品质量。

其操作也较为简便，往往通过直观的数字显示屏呈现结果，减少了人为读数误差。同时，数据可方便地存储和传输，便于后续的分析与管理。无论是科研实验、工程建设还是日常的质量检测，数字测量系统都是实现精准测量不可或缺的工具。

测试与可测性设计

《测试与可测性设计》

在现代电子系统开发中，测试与可测性设计至关重要。测试是确保产品质量的关键环节，它能发现设计和制造中的缺陷。

可测性设计则是从设计阶段就考虑如何方便测试。良好的可测性设计可以提高测试效率，降低测试成本。例如，在电路设计中增加测试点，便于测试设备进行信号检测。对于复杂的集成电路，采用边界扫描技术等可测性设计方法，能够在不破坏芯片封装的情况下对内部电路进行测试。这有助于在生产过程中快速定位故障，提高产品良率，并且在产品维护阶段也能更便捷地进行故障排查，保证产品可靠运行。