数字系统测试和可测性设计pdf_解析数字系统可测性设计的测试

《数字系统测试与可测性设计》

数字系统在现代科技中无处不在，其可靠性至关重要。数字系统测试是确保系统正常运行的关键步骤。通过各种测试方法，如功能测试、边界值测试等，可以检测出系统中的故障和错误。

可测性设计则是在数字系统设计之初就考虑到测试的需求。它能提高测试效率，降低测试成本。良好的可测性设计包括添加测试点、设计易于控制和观察的电路结构等。例如，扫描链技术可方便地将内部信号引出进行测试。

在实际应用中，从芯片到复杂的电路板，数字系统测试和可测性设计相辅相成。合理的可测性设计为有效的测试提供基础，而全面的测试又能验证可测性设计的合理性，共同保障数字系统的质量和可靠性。

数字系统芯片可测性设计

《数字系统芯片可测性设计》

数字系统芯片的复杂度不断增加，可测性设计变得至关重要。可测性设计旨在提高芯片测试的效率和准确性。

在芯片设计阶段，采用扫描链技术是常见的方法。它将芯片内部的寄存器连接成链状结构，便于测试数据的输入和输出。边界扫描则针对芯片的输入输出端口，能够有效地检测芯片引脚的连接性和功能。

内建自测试也是重要手段，通过在芯片内部构建测试电路，芯片自身可以生成测试向量并进行测试，减少了对外部测试设备的依赖。合理的可测性设计不仅能降低测试成本，还能提高芯片的良品率，确保芯片在实际应用中的可靠性，满足日益增长的高性能数字系统需求。

数字测量系统

《数字测量系统：精准测量的得力助手》

数字测量系统在现代诸多领域发挥着至关重要的作用。它基于数字技术，相较于传统测量方式更加精准和高效。

在工业制造中，数字测量系统能精确测定零部件的尺寸，确保产品质量。例如汽车发动机部件的制造，毫米级的误差都可能影响性能，数字测量系统可将误差精确到极小范围。在建筑领域，它能准确测量距离、角度和高度等参数，保障工程的规划与建设的准确性。

而且，数字测量系统操作简便，数据可以直接数字化显示并方便存储和分析。它还能与计算机等设备连接，实现自动化测量与数据共享，为各行业的发展提供可靠的测量支持，推动着现代科技和工程的不断进步。

测试与可测性设计

## 《测试与可测性设计》

在现代工程领域，测试是确保产品质量的关键环节。无论是硬件电路还是软件系统，有效的测试能够发现潜在缺陷。

可测性设计则是为了便于测试而进行的预先规划。在硬件方面，例如添加测试点、设计特殊的电路结构，使故障能够被准确检测定位。这有助于缩短测试时间，提高测试效率。对于软件，良好的可测性设计意味着模块的低耦合、高内聚，方便进行单元测试和集成测试。

可测性设计从项目初期就应被重视。它能够降低测试成本，提高产品可靠性。随着技术发展，测试技术和可测性设计理念也不断更新，两者相辅相成，共同推动产品从研发到交付的整个进程，保障最终产品满足高质量要求。