数字系统测试和可测性设计pdf_数字系统可测性设计测试要点

**《数字系统测试与可测性设计》**

数字系统的可靠性至关重要，这就凸显了测试和可测性设计的意义。

在数字系统测试方面，它旨在检测系统中的故障，如逻辑错误、短路和开路等。通过各种测试技术，像边界扫描测试，可以有效地对芯片内部逻辑进行检测。

可测性设计（dft）是一种前瞻性的策略。它在设计数字系统时就考虑到测试的便利性。例如，插入测试点、设计特定的测试电路。合理的dft能够降低测试成本、提高测试效率。采用扫描链结构的dft，可以将内部寄存器连接成可控制和观测的链。这样，在测试时能方便地输入测试向量并获取输出结果，确保数字系统的质量和可靠性，满足日益复杂的数字电路需求。

数字系统芯片可测性设计

《数字系统芯片可测性设计》

数字系统芯片的复杂度日益增加，可测性设计变得至关重要。可测性设计旨在提高芯片测试的效率和准确性。

一方面，扫描链技术被广泛应用。通过将芯片内的寄存器连接成扫描链，测试数据能够方便地输入输出，实现对芯片内部逻辑的全面检测。这大大缩短了测试时间并增强了故障覆盖率。

另一方面，内建自测试也是关键策略。它在芯片内部构建测试电路，使芯片能够自我测试。这样，无需复杂的外部测试设备就能初步判断芯片的功能正确性。

可测性设计能够在芯片制造过程中及时发现缺陷，降低生产成本，提高产品质量，保障数字系统芯片在各种应用场景中的可靠运行。

数字测量系统

《数字测量系统：精准测量的利器》

数字测量系统在现代社会发挥着至关重要的作用。它利用数字技术，将被测量的物理量转化为数字信号进行处理。

在工业领域，数字测量系统能够精确测量各种参数，如长度、重量、温度等。例如，在机械制造中，通过数字卡尺可以准确读取到极小的长度差值，其精度远超传统测量工具。对于温度测量，数字温度计能快速且精准地显示数值，并且可以方便地与计算机等设备连接，实现数据的记录与分析。

在科研方面，数字测量系统有助于科学家们获取更准确的数据，为理论研究和实验探索提供可靠依据。总之，数字测量系统以其高精度、易操作、便于数据处理等优势，不断推动着各行业的发展进步。

测试与可测性设计

《测试与可测性设计》

在现代工程和软件开发中，测试与可测性设计至关重要。测试是确保产品质量的关键手段，它能发现功能缺陷、性能问题等。

可测性设计则是在产品开发早期就考虑如何更方便地进行测试。从硬件角度看，合理的电路布局、预留测试点等能简化故障检测。在软件方面，模块化、低耦合的设计使得各个模块可以独立测试，提高测试效率。

良好的可测性设计不仅降低测试成本，还能缩短测试周期。它让测试人员可以更全面地检查产品的各项指标，有助于提高产品的可靠性和稳定性，在竞争激烈的市场中，满足用户对高品质产品的需求。